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光譜儀器及配件
平場(chǎng)光譜儀
平場(chǎng)光譜儀,采用全息凹球面變線距光柵進(jìn)行分光,具有平場(chǎng)特性,便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下,衍射效率高,同時(shí)通過選用不同的光柵型號(hào),可以實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)范圍0.6~200nm的全覆蓋。
品牌 | 創(chuàng)譜specreation | 紫外光波長(zhǎng) | 0.6~200nm(選配)nm |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 波長(zhǎng)類型 | 單波長(zhǎng) |
儀器種類 | 臺(tái)式 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,電氣 | 光柵類型 | 凹球面變線距光柵 |
探測(cè)器類型 | 科研級(jí)相機(jī) | 光譜分辨率 | 0.015nm@13.5nm,可根據(jù)需求優(yōu)化 |
平場(chǎng)光譜儀,采用全息凹球面變線距光柵進(jìn)行分光,具有平場(chǎng)特性,便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下,衍射效率高,同時(shí)通過選用不同的光柵型號(hào),可以實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)范圍0.6~200nm的全覆蓋。
平場(chǎng)光譜儀可應(yīng)用于強(qiáng)場(chǎng)與高密度物理、半導(dǎo)體與集成電路制造和探測(cè)器、光源計(jì)量級(jí)標(biāo)定。
主要參數(shù):
● 光柵類型: 凹球?變線距光柵
● 波?范圍: 0.6~200nm(選配)
● 光譜分辨率: 0.015nm@13.5nm, 可根據(jù)需求優(yōu)化
● 探測(cè)器類型: 科研級(jí)相機(jī)
● 前置收光可選
● 具備遠(yuǎn)程激光快速瞄準(zhǔn)定位功能
● ?真空兼容,5×10-3 Pa
● 具有5μm~300μm在線連續(xù)可調(diào)狹縫
光柵參數(shù):
選配范圍:
測(cè)試數(shù)據(jù):
應(yīng)用領(lǐng)域:
400-8877-750