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X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀XANES主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。

X射線近邊吸收譜作為X射線吸收光譜的核心組成部分，是研究材料局域電子結(jié)構(gòu)、化學(xué)態(tài)及配位環(huán)境的強(qiáng)有力工具，為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計(jì)提供直接依據(jù)。

配位結(jié)構(gòu)表征是化學(xué)領(lǐng)域中用于描述和定義配位化合物空間結(jié)構(gòu)和特性的重要手段。它涉及對配位物的空間排列方式、中心原子與配位體之間的相互作用以及整體穩(wěn)定性的詳細(xì)分析。

CT型真空紫外光譜儀 極紫外光源，采?Czerny-Turner光學(xué)結(jié)構(gòu)，可以在空間上將復(fù)?光分成?系列單?光，系統(tǒng)由平?衍射光柵、前后準(zhǔn)直聚焦鏡及CCD探測器組成。

CT型真空紫外光譜儀 探測器研究，采?Czerny-Turner光學(xué)結(jié)構(gòu)，可以在空間上將復(fù)?光分成?系列單?光，系統(tǒng)由平?衍射光柵、前后準(zhǔn)直聚焦鏡及CCD探測器組成。